環保在線-
過程氣體分析質譜儀 詳細摘要： The HPR-30 is a residual gas analyser configured for analysis of gases and vapou...
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飛行時間二次離子質譜儀TOF-SIMS 詳細摘要： 品牌：Hiden 型號：TOF-qSIMS 制造商：Hiden Analytical Ltd 產地： 英國
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EQP等離子體質量和能量分析質譜儀 詳細摘要： The EQP system directly measures mass and energy of both positive and negative p...
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PSM等離子體質量和能量分析質譜儀 詳細摘要： Hiden plasma probes measure some of the key plasma parameters and provide detail...
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高級朗繆爾探針 詳細摘要： A system for the analysis of secondary positive and negative ions from solid sam...
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等離子體刻蝕終點檢測儀 詳細摘要： The IMP-EPD is a differentially pumped, ruggedised secondary ion mass spectromet...
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二次離子質譜工作站 詳細摘要： The Hiden SIMS Workstation provides for high performance static and dynamic SIMS...
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二次離子質譜探針 詳細摘要： The Hiden MAXIM quadrupole SIMS analyser is a state of the art secondary ion mas...
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二次離子/濺射中性粒子質譜儀 詳細摘要： The Hiden MAXIM quadrupole SIMS analyser is a state of the art secondary ion mas...
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銫離子槍 詳細摘要： The IG5C features a low power, high brightness, surface ionisation source couple...
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Ar/O2離子槍 詳細摘要： The IG20 features a high brightness electron impact gas ion source which is desi...
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原子散亂表面分析儀器 詳細摘要： Pascal Sputtering system is suitable For Accurate Multi Layer Deposition，Higher ...
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激光分子束外延鍍膜系統 詳細摘要： The laser MBE is very suitable for the atomic layer controlled growth of oxides ...
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HPR-60常壓分子束取樣質譜儀 詳細摘要： The Hiden HPR-60 molecular beam mass spectrometer is a compact skimmer inlet MS ...
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